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产品展示

微分干涉显微镜

设备简述

本显微镜专业应用于工业检测及金相分析,主要是用来检查ACF的有效导电经本压后的爆破情况,根据人机工程学设计,很大程度上减轻操作者的使用疲劳。其模块化的部件设计,可对系统功能进行自由组合。涵盖明场、暗场、斜照明、偏光、DIC微分干涉等多种观察功能,可根据实际应用,进行功能选择。
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设备用途

本显微镜专业应用于工业检测及金相分析,主要是用来检查ACF的有效导电经本压后的爆破情况,根据人机工程学设计,很大程度上减轻操作者的使用疲劳。其模块化的部件设计,可对系统功能进行自由组合。涵盖明场、暗场、斜照明、偏光、DIC微分干涉等多种观察功能,可根据实际应用,进行功能选择。

技术参数

    1、丰富的观察方式,满足您的检测需求:明场观察,暗场观察,简易偏光观察,DIC 微
          分干涉观察等;
    2、采用强卤素光源, 12V100W 卤素灯时照明时,可以选择 LBD 日光型滤色片,能将光线过滤成自然日光的颜色,图像背景柔和亮白。根据具体工业检测的需要,可以选择其他颜色的滤光片来对光线光谱进行调节,以获得好的图像效果
    3、其微分干涉效果可与进口品牌相媲美;
    4、正像三通观察筒,30°倾斜,极大的提高了观察的舒适性与操作的适应性;
    5、物镜放大倍数有5X10X20X多种可用;
    6、采用大尺寸平台设计,可适用于相应各种尺寸的样品的金相检查;  

设备特点

效果清晰,性价比强

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